有1、ATE測(cè)試是用于芯片大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試,保障質(zhì)量、成本和進(jìn)度的供應(yīng) 。
2、ATE測(cè)試基本的覆蓋理念主要是結(jié)構(gòu)性測(cè)試,再輔以一定的功能和性能測(cè)試。
3、與Function測(cè)試有較為明顯的差異,ATE測(cè)試重點(diǎn)在于檢測(cè)制造缺陷。
加拿大有ATE測(cè)試嗎急求答案,幫忙回答下
有1、ATE測(cè)試是用于芯片大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試,保障質(zhì)量、成本和進(jìn)度的供應(yīng) 。
2、ATE測(cè)試基本的覆蓋理念主要是結(jié)構(gòu)性測(cè)試,再輔以一定的功能和性能測(cè)試。
3、與Function測(cè)試有較為明顯的差異,ATE測(cè)試重點(diǎn)在于檢測(cè)制造缺陷。