透射電子顯微鏡,簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。
散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結(jié)構(gòu),即小于0.2μm、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu),又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。
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透射電子顯微鏡,簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。
散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結(jié)構(gòu),即小于0.2μm、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu),又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。
tem是透射電子顯微鏡的英文縮寫,是一種用于材料組織和晶體學(xué)研究的高分辨率顯微鏡。tem能夠通過電子束的傳輸和散射,獲取材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和成分信息。
tem是透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope)的縮寫,它是通過電子束穿透樣品來獲取高分辨率圖像的一種顯微鏡。使用tem可以觀察物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)及原子級別的細(xì)節(jié),是一種常用于材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域的分析工具。
TEM是Transverse Electric and Magnetic Field 的縮寫,常用于微波中標(biāo)識模式的符號。指電磁波的電場和磁場都在垂直于傳播方向的平面上,這種電磁波簡稱TEM波。
TEM有很多意思,在中國,一般最常見就是英語專業(yè)等級考試,俗稱專四,專八 TEM (Test for English Major)