透射電鏡
TEM是透射電鏡，主要用于微區(qū)衍射分析，進(jìn)行材料的微觀結(jié)構(gòu)分析、晶體學(xué)參數(shù)分析，位錯(cuò)等研究AFM是原子力顯微鏡，主要用于材料表面微觀形貌觀測(cè)，可實(shí)現(xiàn)3維立體構(gòu)圖XRD是X射線衍射，主要用于物相分析（定性與定量），結(jié)晶度分析，織構(gòu)測(cè)定，晶體學(xué)參數(shù)測(cè)定等紅外光譜主要用于有機(jī)官能團(tuán)的標(biāo)識(shí)
問TEM是什么分析儀器
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TEM是什么分析儀器求高手給解答
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