MAP考試幾年級(jí)可以參加？MAP考試全稱Measures of Academic Progress，是一種適應(yīng)性評(píng)估，MAP考試1-12年級(jí)都可以考，當(dāng)前，許多國(guó)際學(xué)校都使用MAP系統(tǒng)作為入學(xué)測(cè)試的工具之一。

MAP測(cè)試分為兩種，高階（2-12年級(jí)）以及低齡（K-2年級(jí)）。目前一般國(guó)際學(xué)校入學(xué)測(cè)評(píng)只有2年級(jí)以上才使用MAP測(cè)評(píng)，一年級(jí)以下僅需面試或課堂觀察。

1、MAP（Measures of Academic Progress）：適用于2-12年級(jí)。

2、MPG（Mapfor Primary Grades）：適用于K-2年級(jí)。

由于K-2年級(jí)學(xué)生的識(shí)字和閱讀能力有限，因此MPG的測(cè)試系統(tǒng)配備了每道題目的語(yǔ)音提示，讓考生可以通過(guò)聽(tīng)來(lái)理解題目要求及題意。

MAP測(cè)試采取自適應(yīng)測(cè)試的方式，即測(cè)試內(nèi)容會(huì)根據(jù)學(xué)生上一道答題結(jié)果而變化，題目難度也會(huì)隨著考生答題狀況而變化。MAP的題庫(kù)非常強(qiáng)大，電腦自動(dòng)為學(xué)生挑選題目，可以根據(jù)學(xué)生前一道題目的作答水平來(lái)提供相應(yīng)難度水平的題目，因此每個(gè)學(xué)生都有獨(dú)一無(wú)二的測(cè)試題目。

正因如此，MAP測(cè)試能提供每一名學(xué)生的準(zhǔn)確的評(píng)估結(jié)果，清晰地反映出學(xué)生在當(dāng)前階段強(qiáng)項(xiàng)、弱項(xiàng)，以便查漏補(bǔ)缺，為將來(lái)選擇適合的專業(yè)做準(zhǔn)備。

MAP測(cè)試從幼兒園到高中階段采用的是一套穩(wěn)定不變的評(píng)分機(jī)制，該測(cè)試可以用分?jǐn)?shù)直觀地反映出受測(cè)者的學(xué)術(shù)成長(zhǎng)軌跡，準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)出學(xué)生在不同年級(jí)、不同學(xué)期的學(xué)習(xí)進(jìn)展情況。

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