SAT全稱Scanning Acoustic Microscope，即掃描聲學顯微鏡。它是一種利用高頻超聲波作為信號傳播媒介，實現(xiàn)材料內(nèi)部無損檢測成像的專用設(shè)備。SAT可用于半導體電子、航空航天、新能源等多個行業(yè)，檢測晶圓、封裝器件、金屬基板等樣品的界面異常、分層、裂紋、夾雜物等內(nèi)部缺陷，精度達到微米級。

SAT設(shè)備檢測原理是超聲波的反射與傳輸

SAT的檢測原理是基于超聲波在不同介質(zhì)之間的反射與傳播規(guī)律。當超聲波信號傳播至樣品內(nèi)部兩種不同材質(zhì)之間的界面時，會發(fā)生一定程度的反射和一定程度的穿透。SAT正是通過分析接收到的反射波和穿透波的信號變化，來判斷材料內(nèi)部是否存在界面異常、裂紋、空洞等缺陷，并可以將信號變化成像，直觀地展示出材料內(nèi)部的圖像。

SAT設(shè)備的幾種常見掃描模式

SAT設(shè)備最常見的掃描模式有A模式、B模式、C模式掃描。A模式掃描是對單一點的波形分析;B模式掃描可以得到樣品剖面圖像;C模式掃描可以得到樣品平面圖像。這些掃描模式各有優(yōu)勢，能夠全面檢測樣品的內(nèi)部質(zhì)量。除此之外，SAT設(shè)備還有透射掃描、分焦距掃描等模式，可以實現(xiàn)不同檢測需要。

SAT設(shè)備與X光機的區(qū)別與互補性

SAT與X光機都是重要的無損檢測設(shè)備，兩者互為補充。X光機基于材料密度差異成像，對界面不敏感;而SAT可以輕易檢測到樣品內(nèi)部的分層等界面異常。另外，X光機整體透射樣品，可能損壞半導體器件;SAT使用安全的高頻超聲波，不會損壞被檢測器件。所以，SAT與X光機常被同時使用，以發(fā)揮各自優(yōu)勢，得到更全面準確的檢測結(jié)果。

SAT設(shè)備的應(yīng)用范圍極為廣泛

SAT設(shè)備應(yīng)用極為廣泛，可用于半導體電子行業(yè)、新能源、航天航空、材料科學等多個領(lǐng)域，檢測晶圓、IC封裝、電池、金屬材料、復(fù)合材料等樣品，發(fā)現(xiàn)界面異常、裂紋、空洞等各類內(nèi)部缺陷。隨著科技的發(fā)展，SAT的檢測能力也在不斷提高，分辨率達到了微米甚至納米級，使其在半導體芯片檢測等領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。

SAT是一種利用超聲波進行無損內(nèi)部成像檢測的專用設(shè)備。它可輕易發(fā)現(xiàn)樣品內(nèi)部各類缺陷，應(yīng)用范圍極廣，與X光機互為補充。隨著科技進步，SAT機的性能也在不斷提升。

【微語】留學是一種經(jīng)歷，更是你人生中不可或缺的一段旅程，在這段旅程中，你將遇見形形色色的人，看透世間百態(tài)。